暗号と乱数―乱数の統計的検定(統計学One Point〈7〉) [全集叢書]
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暗号と乱数―乱数の統計的検定(統計学One Point〈7〉) [全集叢書]

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出版社:共立出版
販売開始日:2018/04/11
ご確認事項:返品不可

暗号と乱数―乱数の統計的検定(統計学One Point〈7〉) の 商品概要

  • 目次

    第1章 2進法の世界における確率法則
    1.1 2進法での演算規則
    1.2 2進法での確率法則

    第2章 乱数を用いての暗号化送信における統計的問題
    2.1 送信と統計的表現
    2.2 仮説検定について
    2.3 乱数の扱いと送信の表現

    第3章 暗号化送信に用いる乱数の統計的検定
    3.1 乱数性と統計的検定法
    3.2 NISTによる一組みの乱数性の統計的検定方法
      3.2.1 NISTによる一組みの統計的検定方法の紹介
      3.2.2 統計学的に検討を要するいくつかの点
    3.3 Non-overlapping Template Matching Testとその一つの改善策の提案
      3.3.1 パターン(テンプレート)
      3.3.2 テンプレートの出現個数の数え方
      3.3.3 テンプレートの定め方
      3.3.4 出現個数の経験分布関数の作成
      3.3.5 帰無仮説SNHのもとでの出現個数の確率分布関数
      3.3.6 テンプレートの出現個数の分布による帰無仮説SNHの検定統計量の構成
      3.3.7 Template Matching Testの改善策の試み(統計学的観点からの改善策の試み)
    3.4 検討と試み
      3.4.1 暗号化送信に用いる乱数と統計的解読可能性
      3.4.2 暗号化送信に用いる乱数の検定について
      3.4.3 乱数の検定に用いる標本の大きさについて

    第4章 二つの0・1数列の和による乱数性の向上
    4.1 一様性からのずれ
    4.2 独立性からのずれ

    参考文献
    索  引
  • 著者紹介(「BOOK著者紹介情報」より)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

    藤井 光昭(フジイ ミツアキ)
    1959年京都大学理学部数学科卒業。東京工業大学名誉教授、理学博士。専門:統計学
  • 内容紹介

     近年社会において情報セキュリティが注目されているが,統計学的には論じらることが少なかったテーマである。メッセージを送信する際のセキュリティ対策として乱数を用いる手法において,その乱数性の良さを統計的に測る手段について論じたのが本書である。日本においてもセキュリティ関係の仕事に携わる方々等に関心が持たれている,米国国立機関 NISTが提案した15個の検定方法を中心に解説している。
     統計学に興味のある方には新しい応用分野として,また,情報セキュリティ分野に興味をある方やセキュリティ関係の仕事に携わる方には一つの新しい観点として読める書籍となっている。統計学が専門でない方のために,その場の話に合わせる形で統計学上の概念も説明している。

暗号と乱数―乱数の統計的検定(統計学One Point〈7〉) の商品スペック

商品仕様
出版社名:共立出版
著者名:藤井 光昭(著)
発行年月日:2018/04/15
ISBN-10:432011258X
ISBN-13:9784320112582
判型:A5
対象:専門
発行形態:全集叢書
内容:数学
言語:日本語
ページ数:104ページ
縦:21cm

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